YD/T 2284-2011《終端光組件用光纖帶》是一項中華人民共和國通信行業標準，該標準規定了終端光組件用光纖帶的結構、型號、技術指標、試驗方法、檢驗規則以及包裝、運輸和貯存要求。
一、范圍：
本標準規定了通信用光電子器件可靠性試驗方法的一般要求和詳細要求，包括:試驗目的、設備、條件、程序、檢驗及失效判據。
本標準適用于通信用光電子器件，包括但不限于激光二極管、發光二極管、光電二極管、雪崩光電二極管及由它們組成的組件或模塊，簡稱“光電子器件”。其他領域的光電子器件也可參照使用。
二、試驗項目：
熱沖擊試驗、高低溫試驗、溫度循環試驗、恒定濕熱試驗等。
三、試驗設備：
恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、高溫老化箱等。
四、文檔獲取：
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.jpg "《YD/T 2342-2011 通信用光電子器件可靠性試驗方法》標準(圖1)")
五、試驗程序（部分）：
高溫壽命試驗：
試驗條件如下:
試驗溫度:(85士2)℃(不限于):
工作偏置:正常工作偏置（不限于);
試驗時間:5000h（不限于)。
試驗程序如下:
a)試驗前應對試樣的主要光電特性進行測試;
b)將試樣放進高溫試驗箱內，并使樣品處于工作狀態;
c)按照試驗條件開始試驗，記錄起始時間、試驗溫度和樣本數;
d)使用監視儀器，從試驗開始到試驗結束監視試驗溫度和工作偏置，以保證全部試樣按條件施加應力;
e)在中間測試時將樣品從高溫試驗箱取出，測試完成后放回高溫試驗箱繼續進行試驗。
檢測
一般每168h在常溫下測試一次光電特性。在測試前應先去掉偏置，然后冷卻到室溫后進行測試。
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