以往半導(dǎo)體廠商依據(jù)ICE標準（85%rh相對濕度85℃熱環(huán)境）對半導(dǎo)體元件進行長時間（＞1000hrs）靜態(tài)老化，使其失效周期加速顯現(xiàn)。JESD22-A110高加速HAST試驗箱的研發(fā)，是為了解決以上超長的實驗周期，下面，我們結(jié)合實際使用要求，來看看高加速HAST試驗箱的技術(shù)要求。

試驗設(shè)備：環(huán)儀儀器 JESD22-A110高加速HAST試驗箱

產(chǎn)品特性：解決超長的實驗周期，不支持表面貼裝工藝，對整個實驗過程中元件電氣性的檢測等問題。

技術(shù)要求：

1.HAST實驗箱

功能：模擬高溫高濕環(huán)境，進行加速老化測試?？稍?10~130℃溫度范圍內(nèi)保持相對濕度為85%。

技術(shù)參數(shù)：

2.系統(tǒng)工作原理

測試準備：用戶通過中控模塊設(shè)置測試參數(shù)，包括溫度、濕度、測試時間等。

環(huán)境模擬：HAST實驗箱根據(jù)設(shè)定參數(shù)，啟動高溫濕度控制系統(tǒng)，模擬實際使用環(huán)境。

信號采集：待測元件在測試過程中，相關(guān)數(shù)據(jù)通過多路信號適配板傳輸至多路數(shù)據(jù)采集模塊進行實時監(jiān)測。

數(shù)據(jù)處理：采集到的數(shù)據(jù)被傳送至中控模塊，由控制處理器進行處理和存儲。

結(jié)果分析：測試完成后，用戶可通過人機交互界面查看測試結(jié)果和分析數(shù)據(jù)。

技術(shù)優(yōu)勢：

1.HAST試驗箱適用于各類半導(dǎo)體元件的HAST可靠性測試，能夠驗證貼片封裝和接插元件在實際焊接條件下的使用壽命。中控模塊可設(shè)定HAST試驗箱的溫濕度和電源電壓，實時記錄和分析多路數(shù)據(jù)，生成伏安特性圖供技術(shù)人員參考。

2.可對幾乎所有半導(dǎo)體和光伏元件進行HAST實驗，采用多路信號采樣可同時對多個樣本進行標準化實驗，且測試時間僅需ICE的十分之一。

3.設(shè)計了多重信號分路板，并配備濾波器和保護電路，有效過濾噪聲和防止浪涌，確保儀器安全和信號純凈。

如有JESD22-A110高加速HAST試驗箱的選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。